مجهر القوى الذري (atomic force microscope (AFM :

نوع من المجاهر بحيث يكون فيه مجس صغير مثبت على ناتئة نابضة و يحتوي على شريحة من الماس متصلا مع سطح العينة. يتم تحريك المجس على طول السطح و من ثم يتم ملاحظة التغير في القوى بين رأس المجس و سطح العينة . يتم رفع و خفض المجس لإبقاء تلك القوى ثابتة و من ثم يتم رسم مخطط صوري للسطح. فمسح المجس فوق العينة يولد صورة أو خريطة سطحية للعينة يمكن مشاهدتها بالحاسوب. هذا الجهاز مماثل لجهاز مجهر المسح النفقي و لمكن هنا يتم استخدام قوى ميكانيكية بدلا من الإشارات الكهربائية. فهذه التقنية تستطيع أن تدرس كل جزيء على حدة و بخلاف جهاز مجهر المسح النفقي يمكن التعامل مع العينات التي لا يمكن الوصول إليها مثل العينات البيولوجية.